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ChemReveal 激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）
產品詳情
ChemReveal™ LIBS臺式激光誘導擊穿光譜元素分析儀提供了一種對幾乎所有固體物質的幾乎所有元素成分進行快速分析的方法?；谙冗M的激光誘導擊穿光譜技術（LIBS）,TSI的ChemReveal™ LIBS臺式分析儀是一款對未知化學成分的物質進行快速元素分析的理想的分析儀器–也是對樣品進行粗篩分析的*解決方案，比其它實驗分析方法更容易操作！ChemReveal™ LIBS分析儀可以同時分析材料中的有機元素（C,H,O,N)、超輕元素（例如Li,B,Be,Na,Mg等）、以及重金屬元素。由于具有高分辨率的樣品成像能力、電腦控制的樣品操作以及可調整的激光強度等優點，ChemReveal™ LIBS分析儀能夠*地詳細深入分析固體樣品的輪廓–非常適用于例如檢測薄膜、鍍層、涂層的化學成分、厚度或均勻性分析等應用。ChemReveal™ LIBS臺式分析儀主要在實驗室中使用，提供基本或高級用戶界面，是研究人員、科學家、以及測試人員 理想的選擇，為其提供一種對固態樣品進行快速元素成分分析的解決方案。
• ChemReveal 激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）配備了先進的 ChemLytics ™ 軟件，能夠支持測試方法的開發，以及對客戶建立的或預先裝載的光譜庫 / 校準數據進行詳細的光譜分析。 ChemLytics ™ 軟件為用戶提供了對材料中元素成分及化學屬性進行定性和定量分析的工具 。對于專業級客戶， ChemLytics Plus ™ 軟件可以與 工業標準的化學計量軟件配合，建立對復雜成分材料進行量化分析的多變量模型，或對有疑問的光譜分析結果進行數據庫匹配。
有 TSI 公司強大的服務和體系做保障，以及超過 50 年生產制造高品質儀器的良好聲譽，是您對固態物質進行元素分析 理想的選擇。
特點和優勢
•廣泛的元素分析–從 Z<12 的輕元素（如 C, H, O, N, Li, B, Be ）到重金屬元素
•分析速度快–幾秒鐘到幾分鐘
•幾乎不需要樣品準備時間–直接分析固體樣品、或顆粒狀的粉末（或者是輔料或粘合劑）
•比其它的元素分析方法需要更少的樣品，沒有樣品消耗
•微米級別的厚度分析和立體輪廓繪圖
•微米到宏觀分析–定向而靈活的點分析
•定性的樣品分類或者定量的元素含量分析
•提供多種激光和探頭選項以適應您不同的應用需求
•大多數元素可探測到十幾到幾十個 ppm 量 級
•TSI 售后和
應用領域
•微區材料分析
•寶石鑒定
•鍍層/薄膜
•材料缺陷檢測
•金屬
•材料鑒定（光譜分析）
•醫藥
•環境
•地質
•玻璃/陶瓷
•納米材料
•法醫鑒定
•更多應用 …
應用案例
應用案例可在此處 here 下載，主題包括 :
•石灰石分析
•藥品包衣的分析
•寶石鑒定方面的應用
•玻璃、硼鈉鈣石和硬硼鈣石中硼元素的檢測
•碳納米管分析
•煤碳分析
•石膏分析
•低灰分褐煤分析
•藥品成分*性檢測
•氣溶膠濾波器的分析
•石灰石礬土中鈉元素分析
•硫元素分析
•磷酸鹽巖石和產品的分析
•褐煤分析
•鑭系稀土元素分析
•冶金材料分析
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